1. Pemeriksaan kelompok demi kelompok (Pemeriksaan Kumpulan A)
Setiap kumpulan produk hendaklah diperiksa mengikut Jadual 1, dan semua item dalam Jadual 1 adalah tidak merosakkan.
Jadual 1 Pemeriksaan Setiap Kelompok
Kumpulan | Pemeriksaanitem | Kaedah Pemeriksaan | Kriteria | AQL (Ⅱ) |
A1 | Penampilan | Pemeriksaan visual (dalam keadaan pencahayaan dan penglihatan biasa) | Logo adalah jelas, salutan permukaan dan penyaduran bebas daripada pengelupasan dan kerosakan. | 1.5 |
A2a | Ciri-ciri Elektrik | 4.1(25℃), 4.4.3(25℃) dalam JB/T 7624—1994 | Kekutuban terbalik:VFM>10USL IRRM>100USL | 0.65 |
A2b | VFM | 4.1(25℃) dalam JB/T 7624—1994 | Aduan kepada keperluan | 1.0 |
IRRM | 4.4.3 (25℃,170℃) dalam JB/T 7624—1994 | Aduan kepada keperluan | ||
Nota: USL ialah nilai had maksimum. |
2. Pemeriksaan berkala (Pemeriksaan Kumpulan B dan Kumpulan C)
Menurut Jadual 2, produk yang dimuktamadkan dalam pengeluaran biasa hendaklah diperiksa sekurang-kurangnya satu kelompok Kumpulan B dan Kumpulan C setiap tahun, dan item pemeriksaan yang ditandakan dengan (D) adalah ujian yang merosakkan.Jika pemeriksaan awal tidak memenuhi syarat, persampelan tambahan boleh diperiksa semula mengikut Lampiran Jadual A.2, tetapi sekali sahaja.
Jadual 2 Pemeriksaan Berkala (Kumpulan B)
Kumpulan | Pemeriksaanitem | Kaedah Pemeriksaan | Kriteria | Rancangan Persampelan | |
n | Ac | ||||
B5 | Berbasikal suhu (D) diikuti dengan pengedap |
| Pengukuran selepas ujian:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL bukan kebocoran | 6 | 1 |
CRRL | Berikan secara ringkas sifat-sifat yang relevan bagi setiap kumpulan, VFM dan sayaRRMnilai sebelum dan selepas ujian, dan kesimpulan ujian. |
3. Pemeriksaan pengenalan (pemeriksaan kumpulan D)
Apabila produk dimuktamadkan dan dimasukkan ke dalam penilaian pengeluaran, sebagai tambahan kepada pemeriksaan kumpulan A, B, C, ujian kumpulan D juga perlu dilakukan mengikut Jadual 3, dan item pemeriksaan bertanda (D) adalah ujian yang merosakkan.Pengeluaran biasa produk muktamad hendaklah diuji sekurang-kurangnya satu kelompok Kumpulan D setiap tiga tahun.
Jika pemeriksaan awal gagal, persampelan tambahan boleh diperiksa semula mengikut Lampiran Jadual A.2, tetapi hanya sekali
Jadual 3 Ujian Pengenalpastian
No | Kumpulan | Pemeriksaanitem | Kaedah Pemeriksaan | Kriteria | Rancangan Persampelan | |
n | Ac | |||||
1 | D2 | Ujian beban kitaran haba | Masa kitaran: 5000 | Pengukuran selepas ujian:VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
2 | D3 | Kejutan atau getaran | 100g: tahan 6ms, bentuk gelombang separuh sinus, dua arah 3 paksi saling berserenjang, 3 kali dalam setiap arah, jumlah 18 kali.20g: 100~2000Hz,2j setiap arah, jumlah 6j. | Pengukuran selepas ujian: VFM≤1.1USL IRRM≤2USL | 6 | 1 |
CRRL | Berikan secara ringkas data atribut yang berkaitan bagi setiap kumpulan, VFM , IRRMdan sayaDRMnilai sebelum dan selepas ujian, dan kesimpulan ujian. |
1. Tandakan
1.1 Tandakan pada produk termasuk
1.1.1 Nombor produk
1.1.2 Tanda pengenalan terminal
1.1.3 Nama syarikat atau tanda dagangan
1.1.4 Kod pengenalan lot pemeriksaan
1.2 Logo pada karton atau arahan yang dilampirkan
1.2.1 Model produk dan nombor standard
1.2.2 Nama dan logo syarikat
1.2.3 Tanda kalis lembapan dan kalis hujan
1.3 Pakej
Keperluan pembungkusan produk harus mematuhi peraturan domestik atau keperluan pelanggan
1.4 Dokumen produk
Model produk, nombor standard pelaksanaan, keperluan prestasi elektrik khas, penampilan, dsb. hendaklah dinyatakan pada dokumen.
Thediod kimpalandihasilkan oleh Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor digunakan secara meluas dalam pengimpal rintangan, mesin kimpalan frekuensi sederhana dan tinggi sehingga 2000Hz atau ke atas.Dengan voltan puncak ke hadapan ultra-rendah, rintangan haba ultra-rendah, teknologi pembuatan terkini, keupayaan penggantian yang sangat baik dan prestasi yang stabil untuk pengguna global, diod kimpalan daripada Semikonduktor Jiangsu Yangjie Runau ialah salah satu peranti kuasa China yang paling boleh dipercayai produk semikonduktor.